Thin film Chemical analysis using ion beams: risks and opportunities
Giovedì, 30 Gennaio, 2020
Robertino Zanoni è lieto di invitarvi al seminario di dipartimento:
Thin film Chemical analysis using ion beams: risks and opportunities
di
Dr. Damien Aureau
CNRS
Lavoisier Institute of the University of Versailles
Francia
Il seminario si terrà mercoledì 12 febbraio 2020, alle ore 12.00, nella stanza 24 al IV piano dell'Edificio Caglioti (Cu014).