Informazioni sul servizio
Il servizio di microscopia a scansione elettronica, SEM, LEO1450VP e microanalisi, EDS, INCA300 è a disposizione del personale della facoltà di Scienze matematiche fisiche e naturali della Sapienza. Il servizio effettua anche attività conto terzi.

Responsabile
dott.ssa Daniela Ferro

Laboratorio SEM

Stanza: 7
Piano: Seminterrato
Edificio: Caglioti
Telefono: (+39) 06 4991 3361

Sito web: http://www.chem.uniroma1.it/sem-eds

Prenotazione
Controllare la disponibilità sul calendario e leggere attentamente quanto segue:

si prega di contattare gli operatori nei giorni precedenti la data fissata per l'indagine scientifica, al fine di definire le procedure di analisi ed il supporto più adatto per il trasferimento delle immagini; Le foto acquisite dal sistema computer rimarranno nell'hard disk per un mese, dopo tale periodo verranno rimosse.

Quindi, inviare una email a sem-eds@uniroma1.it specificando:

• nome del richiedente,
• qualifica del richiedente,
• gruppo di ricerca,
• indirizzo e-mail,
• numero di telefono,
• tipo di analisi richiesta,
• numero di campioni da analizzare - max. 6,
• data di prenotazione.

Entro brevissimo tempo, una email darà conferma dell'avvenuta prenotazione.

Preparazione dei campioni
La preparazione dei campioni è relativamente semplice, perché LEO1450 VP consente di osservare si campioni costituiti  da materiali -elettricamente- conduttori che da materiali isolanti, senza alcun pretrattamento. Tuttavia, per i campioni che necessario un trattamento di ricopertura con film conduttori, il sevizio SEM è dotato di una strumentazione Agar coating unit PS3, per lo per “sputtering” di film oro sugli stessi.

Descrizione della tecnica
Il microscopio a scansione elettronica utilizza un fascio di elettroni come sorgente e permette di raggiungere risoluzioni molto più elevate rispetto al tradizionale microscopio ottico. Infatti, l'interazione della sorgente con la superficie del campione si produce su di una scala molto più piccola, essendo la lunghezza d’onda della radiazione associata agli elettroni di molto inferiore a quella della luce visibile. In particolare, le immagine possono essere costruite rilevando l’intensità degli elettroni secondari, SE, o di quelli retrodiffusi, BSE, risultanti dalla suddetta interazione. Gli elettroni secondari forniscono informazioni sulla morfologia della superficie, mentre quelli retrodiffusi restituiscono informazioni sulla presenza di variazioni di composizione. L'immagine ricavata dagli elettroni secondari è una buona rappresentazione tridimensionale della superficie del campione su micro/nano scala. Inoltre, la grande profondità di campo dello strumento permette di mantenere a fuoco una vasta porzione del campione. L’impatto del fascio elettronico -ad alta energia- con i primi strati superficiali del campione genera l’emissione di raggi X caratteristici. La microanalisi ai raggi X a dispersione di energia, EDS, permette di ottenere in tempo reale la composizione quali/quantitativa degli elementi contenuti nella porzione di campione sotto osservazione. Il software di INCA fornisce una varietà di rappresentazioni grafiche dei dati acquisiti.

Vantaggi
Lo strumento dispone di una grande camera (20x20x5 cm) con portacampioni motorizzato, può alloggiare più campioni simultaneamente e lavorare a bassi valori di vuoto. Inoltre, la facilità nella preparazione dei campioni, gli alti ingrandimenti, la grande risoluzione e la larga profondità di campo rendono il SEM estremamente versatile nell affiancare qualsiasi tipo di ricerca.